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Kontakt
Karlsruher Institut für Technologie
Lehrstuhl für Interaktive Echtzeitsysteme

Prof. Dr.- Ing. Jürgen Beyerer
c/o Technologiefabrik
Haid-und-Neu-Str. 7
76131 Karlsruhe

Tel:  +49 721 - 608 45910
Fax: +49 721 - 608 45926

Willkommen am Lehrstuhl für Interaktive Echtzeitsysteme

IES

Prof. Dr.-Ing. J. Beyerer

Aktuell

*Die ASB Vorlesung am Montag 23.12.19 findet nicht statt.

 

Klausur Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung

Die schriftliche Prüfung im Fach ASB wird am Montag, 24.02.2020 - 14:00 bis 16:00 Uhr in Hörsaal Gerthsen stattfinden.

Klausur Mensch-Maschine-Wechselwirkung
•    Schriftlich Prüfung: Prüfungsdauer 60 Minuten, Gesamtdauer 90 Minuten
•    Ort: Gaede-Hoersaal
•    Termine:
        o    31. März 2020, 11 Uhr (Anmeldung über Campus-Management bis 24. März)
        o    29. Juli 2020, 11 Uhr (Nachholtermin, Anmeldung über Campus-Management bis 22. Juli)

Probabilistiche Planung

Bitte beachten Sie, dass die Vorlesung Probabilistische Planung nicht länger angeboten wird. Die Unterlagen zur letzten Vorlesungsreihe finden sie hier.

Neue Adresse

Der Lehrstuhl ist an einen neuen Standort in der Technologiefabrik umgezogen.

Lehrbuch zur Mustererkennung

Am 11. Dezember 2017 erschien das Lehrbuch "Beyerer, Richter, Nagel: Pattern Recognition: Introduction, Features, Classifiers and Principles". Weitere Information finden Sie auf der Seite des De Gruyter Verlags.

Vorlesungsangebot
Das Vorlesungsangebot des Lehrstuhls finden Sie hier.

Lehrbuch zur Automatischen Sichtprüfung
Am 30. September 2012 erschien das Lehrbuch "Beyerer, Puente León, Frese: Automatische Sichtprüfung, Grundlagen, Methoden und Praxis der Bildgewinnung und Bildauswertung". Weitere Information finden Sie auf der Lehrbuch-Seite oder auf der Seite vom Springer-Verlag.

Karlsruher Zentrum für Materialsignaturen
Der Lehrstuhl für Interaktive Echtzeitsysteme hat sich mit anderen Instituten des KIT und dem Fraunhofer IOSB zum Karlsruher Zentrum für Materialsignaturen KCM zusammengeschlossen. Weitere Informationen finden Sie auf der Seite des KCM.

Bachelor-, Master-, Studien- und Diplomarbeiten zu vergeben: Weitere Informationen finden Sie hier.

 
 
Schnelle Oberflächenprüfung durch Applikation inverser Muster
Typ:

Diplomarbeit

Links:
Betreuer:

Dipl.-Ing. Stefan Werling

Status:

abgeschlossen

Abgabedatum:

März 2007

Forschungsprojekt:

Deflektometrie

Am Lehrstuhl IES werden Verfahren zur schnellen Inspektion und Vermessung von Oberflächen entwickelt. Eine Oberfläche lässt sich als Modulator des inzidenten Strahlungsfeldes beschreiben. Die Systemantwort der Oberfläche wird mit einer Kamera gemessen. Aus diesen Signalen und der Kenntnis der inzidenten Strahlungsmuster lassen sich Informationen über das untersuchte Objekt gewinnen. Gängige Verfahren benutzen Serien regelmäßiger Beleuchtungsmuster und bestimmen aus deren durch das Objekt modulierten Bildern relevante Oberflächeneigenschaften.

Mittels Oberflächenmodell lassen sich vorab inverse Muster generieren. Diese Muster stellen Objekthypothesen dar, deren jetzt einfache und schnelle Überprüfung bisherige Verfahren zur Bildserienauswertung ersetzen kann.

Aufgabenstellung:
Im Rahmen der Arbeit soll beispielhaft die Generierung und Auswertung inverser Muster mit Hilfe von Simulationen gezeigt werden. Insbesondere ist eine Genauigkeitsanalyse eines solchen Verfahrens von Interesse.

Voraussetzungen:
Kenntnisse im Bereich Bildverarbeitung, insbesondere 3D-Vision sind wünschenswert.

Über die Ergebnisse der Arbeit ist in einem Vortrag im Rahmen des Seminars am Lehrstuhl für Interaktive Echtzeitsysteme zu berichten.

Literatur: W. Li et al.: Object adapted pattern projection—Part I: generation of inverse patterns, Optics and Lasers in Engineering 41 (2004) 31–50

Arbeitsausrichtung: theoretisch, algorithmisch