Home | english  | Impressum | Sitemap | KIT
Dipl.-Inform. Matthias Richter
Wissenschaftlicher Mitarbeiter
Gebäude: 50.21
Tel.: +49 721 6091-659
Fax: +49 721 608-45926
matthias richterTpw7∂kit edu
Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Lehrstuhl für Interaktive Echtzeitsysteme (IES)
Adenauerring 4
76131 Karlsruhe

Matthias Richter studierte von 2005 bis 2013 Informatik am Karlsruher Institut für Technologie (KIT). In seiner Diplomarbeit, die er bei der Computer Vision for Human-Computer Interaction Lab anfertigte, beschäftigte er sich mit echtzeitfähigen Verfahren zur Registrierung von Gesichtern. Zur Zeit beschäftigt sich Herr Richter mit maschinellen Lernverfahren für die automatische Sichtprüfung sowie mit Methoden zur Auswertung hyperspektraler Daten. Die Arbeit findet in enger Kooperation mit der Abteilung Sichtprüfsysteme (SPR) des Fraunhofer IOSB statt.

Zu vergebende studentische Arbeiten
TitelTypBetreuer
Wissenschaftliche HilfskraftDipl.-Inform. Matthias Richter

Betreute studentische Arbeiten
TitelTyp, AbgabedatumBetreuer
Studien-/ Bachelor-/ Diplom- oder MasterarbeitDipl.-Inf. Matthias Richter

Veröffentlichungen
TitelAutorenQuelle
Richter, M.; Längle, T.; Beyerer, J.Proceedings of the 23rd International Conference on Patter Recognition, 2016.
Retzlaff, M.-G.; Richter, M.; Längle, T.; Beyerer, J.; Dachsbacher, C.Forum Bildverarbeitung 2016, 2016.
Richter, M.; Maier, G.; Gruna, R.; Längle, T.; Beyerer, J.Proceedings of the 2nd World Congress on Electrical Engineering and Computer Systems and Science (EECSS’16), S. 104.1-104.8, Avestia Publishing, 2016.
Richter, M.; Vieth, K.-U.; Längle, T.; Beyerer, J.Proceedings of the 7th Sensor-Based Sorting & Control 2016, S. 169-177, 2016.
Richter, M.; Längle, T.; Beyerer, J.tm Technisches Messen 82 Nr. 2, S. 663-671, Oldenbourg Wissenschaftsverlag, 2015.
Richter, M.; Längle, T.; Beyerer, J.Proceedings of the 14th IAPR International Conference on Machine Vision Applications, S. 210-213, 2015.
Richter, M.; Beyerer, J.Beyerer, J.; León, F. P.; Längle, T. (Hrsg.), OCM 2015 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings , S. 103-112, KIT Scientific Publishing, 2015.
Walocha, J.; Richter, M.Beyerer, J.; León, F. P.; Längle, T. (Hrsg.), OCM 2015 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings , S. 137-145, KIT Scientific Publishing, 2015.
Richter, M.; Längle, T.; Beyerer, J.tm -Technisches Messen 82 Nr. 3, S. 135-144, 2015.
Richter, M.; Beyerer, J.Puente León, F.; Heizmann, M. (Hrsg.), Forum Bildverarbeitung, S. 107-118, KIT Scientific Publishing, 2014.
Stephan, T.; Richter, M.; Beyerer, J.9th Future Security. Security Research Conference. Proceedings., Fraunhofer Verlag, 2014.
Richter, M.; Gao, H.; Ekenel, H. K.Proceedings of the IEEE Winter Conference on Applications of Computer Vision (WACV), 2014.
Richter, M.; Beyerer, J.Proceedings of the IEEE Winter Conference on Applications of Computer Vision (WACV), 2014.
Richter, M.; Gehrig, T.; Ekenel, H. K.21st International Conference on Pattern Recognition (ICPR 2012), S. 3517-3520, 2012.