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Dr.-Ing. Miro Taphanel
Wissenschaftlicher Mitarbeiter und Gruppenleiter
Gebäude: 50.21
Raum: 017
Tel.: +49 721 6091-389
Fax: +49 721 608-45926
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Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Lehrstuhl für Interaktive Echtzeitsysteme (IES)
Adenauerring 4
76131 Karlsruhe

Miro Taphanel (geb. Sauerland) studierte im Zeitraum 2005-2010 Maschinenbau an der Universität Karlsruhe (TH). Die Diplomarbeit "Unüberwachtes Lernen von Objekten auf akkumulierten 3D-Laserdaten" wurde am Institut für Angewandte Informatik / Automatisierungstechnik (AIA) angefertigt. Herr Taphanel beschäftigt sich derzeit mit derzeit mit der optischen Signalvorverarbeitung in der Messtechnik. Im Fokus stehen dabei Anwendungen aus der Spektroskopie und der 3D-Messtechnik. Die Forschung findet in enger Kooperation mit der Abteilung Sichtprüfsysteme" (SPR) des Fraunhofer IOSB statt.

Veröffentlichungen
TitelAutorenQuelle
Luo, D.; Taphanel, M.; Längle, T.; Beyerer, J.Applied Optics 56 Nr. 8, S. 2155-3165, OSA, 2017.
Luo, D.; Bauer, S.; Taphanel, M.; Längle, T.; León, F. P.; Beyerer, J.Proceedings of SPIE Next-Generation Spec, S. 98550P-98550P-9, SPIE, 2016.
Taphanel, M.; Beyerer, J.tm Technisches Messen 82 Nr. 2, S. 94-101, Oldenbourg Wissenschaftsverlag, 2015.
Taphanel, M.; Zink, R.; Längle, T.; Beyerer, J.SPIE 9525, Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IX, S. 95250Y-95250Y, 2015.
Taphanel, M.Leitfaden zur optischen 3D-Messtechnik Nr. 14, S. 39-41, Fraunhofer Verlag, Stuttgart, 2014.
Taphanel, M.; Beyerer, J.XXVIII. Messtechnisches Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik e.V., Shaker, 2014.
Taphanel, M.; Beyerer, J.; Rademacher, D.OIC-Optical Interference Coatings, Optical Society of America, 2013.
Taphanel, M.; Hovestreydt, B.; Beyerer, J.Proc. SPIE 8788, Optical Measurement Systems for Industrial Inspection VIII, S. 87880S–87880S-10, 2013.
Taphanel, M.; Beyerer, J.Tagungsband 18.Workshop Farbbildverarbeitung, 2012.
Taphanel, M.; Beyerer, J.2012 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference Proceedings (I2MTC 2012) , S. 1072 -1077, 2012.
Taphanel, M.; Gruna, R.; Beyerer, J.tm - Technisches Messen 79 Nr. 4, S. 202-209, Oldenbourg Wissenschaftsverlag, 2012.
Moosmann, F.; Sauerland, M.IEEE International Conference on Computer Vision Workshops Proceedings, S. 1038-1044, 2011.
Sauerland, M.; Gruna, R.; Beyerer, J.Puente León, F.; Beyerer, J. (Hrsg.), Tagungsband des XXV. Messtechnisches Symposiums, S. 91-102, Shaker, 2011.