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Prof. Dr.-Ing. Stefan Werling
Ehemaliger wissenschaftlicher Mitarbeiter
Duale Hochschule Baden-Württemberg Mannheim

Dipl.-Ing. Stefan Werling hat nach seinem Studium der Elektrotechnik an der Universität Karlsruhe von 1998 bis 2004 bei der VITRONIC GmbH auf dem Gebiet der optischen Qualitätsprüfung gearbeitet. Herr Werling arbeitet u. a. in der Projektgruppe VBV mit.

Veröffentlichungen
TitelAutorenQuelle
Höfer, S.; Werling, S.; Beyerer, J.Proceedings SENSOR 2013 , 2013.
Höfer, S.; Roschani, M.; Werling, S.Proceedings of SPIE Volume 8791, Videometrics, Range Imaging, and Applications XII; and Automated Visual Inspection, 2013.
Stephan, T.; Frühberger, P.; Werling, S.; Heizmann, M.SPIE Optical Metrology 2013, S. 87911F-87911F, 2013.
Vogelbacher, M.; Werling, S.; Ziebarth, M.Puente León, F.; Heizmann, M. (Hrsg.), Forum Bildverarbeitung, S. 193-204, KIT Scientific Publishing, 2012.
Höfer, S.; Werling, S.; Beyerer, J.Schmitt, P. D.-I. R. (Hrsg.), Tagungsband des XXVI. Messtechnisches Symposiums, Shaker, 2012.
Höfer, S.; Roschani, M.; Werling, S.; Beyerer, J.Puente León, F.; Beyerer, J. (Hrsg.), Tagungsband des XXV. Messtechnisches Symposiums, S. 127-138, Shaker, 2011.
Werling, S.; Beyerer, J.tm - Technisches Messen 78 Nr. 9, S. 398-404, Oldenbourg Wissenschaftsverlag, 2011.
Werling, S. B.Dissertation, Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung, Bd. 3, KIT Scientific Publishing, 2011.
Balzer, J.; Werling, S.; Beyerer, J.tm - Technisches Messen 78 Nr. 1, S. 43-50, Oldenbourg Wissenschaftsverlag, 2011.
Balzer, J.; Werling, S.Measurement 43 Nr. 10, S. 1305-1317, Elsevier, 2010.
Höfer, S.; Werling, S.; Beyerer, J.Puente León, F.; Heizmann, M. (Hrsg.), Forum Bildverarbeitung, S. 25-34, KIT Scientific Publishing, 2010.
Werling, S.; Beyerer, J.Puente León, F.; Heizmann, M. (Hrsg.), Forum Bildverarbeitung, S. 349-364, KIT Scientific Publishing, 2010.
Werling, S.; Heizmann, M.IndustrialVision Nr. 4, S. 42-43, Vereinigte Fachverlage, 2010.
Balzer, J.; Höfer, S.; Werling, S.; Beyerer, J.Goesele, M.; Roth, S.; Kuijper, A.; Schiele, B.; Schindler, K. (Hrsg.), Pattern Recognition - DAGM Symposium, Lecture Notes in Computer Science, Bd. 6376, S. 41-50, Springer, 2010.
Werling, S.; Mai, M.; Heizmann, M.; Beyerer, J.Metrology and Measurement Systems XVI Nr. 3, S. 415-431, Polish Academy of Science, 2009.
Werling, S.Technischer Bericht IES-2009-10. In: Beyerer, J.; Huber, M. (Hrsg.), Proceedings of the 2009 Joint Workshop of Fraunhofer IOSB and Institute for Anthropomatics, Vision and Fusion Laboratory, S. 143-158, KIT Scientific Publishing, 2009.
Werling, S.; Mai, M.; Heizmann, M.; Beyerer, J.Metrology and Measurement Systems 16 Nr. 3, S. 415-431, Polish Academy of Sciences, 2009.
Werling, S.; Beyerer, J.Puente León, F.; Heizmann, M. (Hrsg.), Bildverarbeitung in der Mess- und Automatisierungstechnik, VDI-Berichte Nr. 1981, S. 237-246, VDI-Verlag, Düsseldorf, 2007.
Balzer, J.; Werling, S.; Beyerer, J.tm-Technisches Messen 74 Nr. 11, Oldenbourg Verlag, München, S. 545-552, 2007.
Kammel, S.; Pitzer, B.; Vacek, S.; Schröder, J.; Frese, C.; Werling, M.; Goebl, M.DARPA Urban Challenge Technical Paper, 2007.
Werling, S.; Balzer, J.; Beyerer, J.37. Jahrestagung der Gesellschaft für Informatik e.V. (GI): INFORMATIK 2007 - Informatik trifft Logistik, Bd. 1, S. 44-48, 2007.
Werling, S.; Balzer, J.; Beyerer, J.Grün, A.; Kahmen, H. (Hrsg.), Optical 3-D Measurement Techniques, Zürich, Bd. 2, S. 386-392, 2007.
Werling, S.; Beyerer, J.tm Technisches Messen 74 Nr. 4, Oldenbourg Verlag, München, S. 217-223, 2007.
Beyerer, J.; Sander, J.; Werling, S.tm Technisches Messen 74 Nr. 3, Oldenbourg Verlag, München, S. 103-111, 2007.
Werling, S.; Beyerer, J.Tagungsband des XX. Symposiums des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik, Shaker-Verlag, 2006.
Balzer, J.; Werling, S.; Beyerer, J.Huang, P. (Hrsg): Two- and Three-Dimensional Methods for Inspection and Metrology IV, Optics East, Proceedings of SPIE Vol. 6382, 2006.
Beyerer, J.; Sander, J.; Werling, S.Informationsfusion in der Mess- und Sensortechnik, J. Beyerer, F. Puente León, K.-D. Sommer (Hrsg.), Universitätsverlag Karlsruhe, 2006; Beiträge des VDI/VDE-GMA Expertenforums "Informationsfusion in der Mess- und Sensortechnik 2006", 21., S. 21-37, 2006.
Werling, S.VITRONIC Dr.-Ing. Stein Bildverarbeitungssysteme, Wiesbaden, 2004.

Betreute studentische Arbeiten
TitelTyp, AbgabedatumBetreuer
Studienarbeit
2012
Dr.-Ing. Stefan Werling
HiWi-StelleDipl.-Ing. Stefan Werling
Diplomarbeit
Februar 2010
Dipl.-Ing. Stefan Werling
Studienarbeit
Februar 2010
Dipl.-Ing. Jonathan Balzer
Dipl.-Ing. Stefan Werling
Studienarbeit
September 2009
Dipl.-Ing. Stefan Werling
Studienarbeit
November 2008
Dipl.-Ing. Stefan Werling
Studienarbeit
Oktober 2008
Dipl.-Ing. Stefan Werling
Dr. rer. nat. Jonathan Balzer
Studienarbeit
Juli 2008
Dipl.-Ing. Jonathan Balzer
Dipl.-Ing. Stefan Werling
Diplomarbeit
März 2007
Dipl.-Ing. Stefan Werling