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Application of DOE in confocal microscopy for surface measurement

Konferenzbeitrag

Links:
Autoren:

Zheng Li
Miro Taphanel
Thomas Längle
Jürgen Beyerer

Quelle:

Photonics and Education in Measurement Science 2019, Bd. 11144, SPIE, 2019.

Seiten:

254 -- 261