Home | english  | Impressum | Datenschutz | Sitemap | KIT
Analyse von Linientexturen: Methoden und Anwendungen

Konferenzbeitrag

Links:
Autor:

Jürgen Beyerer

Quelle:

28. Heidelberger Bildverarbeitungsforum: Automatische Inspektion komplexer Oberflächen, 2005.

Konferenz:

28. Heidelberger Bildverarbeitungsforum: Automatische Inspektion komplexer Oberflächen, Weinheim, 12. Juli 2005