Home | english  | Impressum | Sitemap | KIT
Über die Eindeutigkeit der stereo-regularisierten deflektometrischen Oberflächenrekonstruktion

Konferenzbeitrag

Links:
Autoren:

Jonathan Balzer
Julian Dibbelt
Jürgen Beyerer

Quelle:

Fernando Puente León, Michael Heizmann (Hrsg.), Bildverarbeitung in der Mess- und Automatisierungstechnik, VDI-Berichte Nr. 1981, VDI-Verlag, Düsseldorf, 2007.

Seiten:

125-136

Konferenz:

VDI/VDE-GMA-Tagung "Bildverarbeitung in der Mess- und Automatisierungstechnik", Regensburg, 2007



Wir behandeln Stereo-Verfahren zur deflektometrischen Vermessung spiegelnder Oberflächen. Bekanntlich besitzt der Lösungsraum des Rekonstruktionsproblems eine eindimensionale Struktur. Es wird gezeigt, dass die Bestimmung eines Anfangswerts mit Hilfe einer Disparitätsanalyse mit großer Sorgsamkeit erfolgem muss. Die Verwendung zweier vollständiger Normalenfelder im Rahmen eines restringierten Optimierungsverfahrens wird vorgeschlagen, welches anhand experimenteller Daten validiert wird.