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Lineare Deflektometrie – Regularisierung und experimentelles Design

Zeitschriftenartikel

Links:
Autoren:

Jonathan Balzer
Stefan Werling
Jürgen Beyerer

Quelle:

tm - Technisches Messen 78 Nr. 1, Oldenbourg Wissenschaftsverlag, Januar 2011.

Seiten:

43-50

Spiegelnde Oberflächen lassen sich mit Hilfe deflektometrischer Methoden vermessen. Die Lösungen des Rekonstruktionsproblems bilden dabei bekanntlich eine einparametrige Familie, mit deren Eigenschaften sich der vorliegende Beitrag befasst. Wir zeigen theoretisch und im Experiment, dass die Formempfindlichkeit der Lösungen mit wachsender Entfernung vom optischen Zentrum der bildgebenden Komponente des Sensorsystems monoton abnimmt und schlagen daraufhin eine neuartige Regularisierungsstrategie vor. Desweiteren werden Empfehlungen für die Konstruktion eines Messaufbaus gegeben, die diese und die dazu konträre Regularisierung durch spekulares Stereo begünstigen.