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Planungsbasierte Oberflächeninspektion in der Deflektometrie bei gegebener Referenzfläche mittels Greedy-Optimierung

Konferenzbeitrag

Links:
Autoren:

Masoud Roschani
Jürgen Beyerer

Quelle:

Prof. Dr.-Ing. Robert Schmitt (Hrsg.), Tagungsband des XXVI. Messtechnisches Symposiums, Shaker, 2012.

Konferenz:

XXV. Messtechnisches Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik (AHMT), Aachen, 20.-22. September 2012

Bei einer deflektometrischen Inspektion sind für große oder kompliziert geformte Oberflächen mehrere Messungen notwendig, um diese vollständig und mit gleichmäßiger Präzision zu erfassen. Die manuelle Wahl der Sensorkonfigurationen ist meist zeitaufwendig und für komplex geformte Prüfobjekte keine triviale Aufgabe. In dieser Arbeit stellen wir ein probabilistisches Planungsverfahren vor, dass bei bekannter Referenzfläche eine Sequenz von Parametern für den deflektometrischen Sensorkopf plant mit dem Ziel ein Maß der Unsicherheit auf der geschätzten Oberfläche zu minimieren. Wir untersuchen empirisch in einer Simulation verschiedene kovarianzbasierte Gütemaße und diskutieren deren Eignung für die deflektometrische Inspektion.