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Inspektion spiegelnder Oberflächen mit Wavelet-basierten Verfahren

Konferenzbeitrag

Links:
Autoren:

Mathias Ziebarth
Tan-Toan Le
Thomas Greiner
Michael Heizmann

Quelle:

Fernando; Heizmann Puente León (Hrsg.), Forum Bildverarbeitung 2012, KIT Scientific Publishing, 2012.

Seiten:

167-180

Konferenz:

Forum Bildverarbeitung 2012, Regensburg, Deutschland, 29.-30. November 2012