Home | english  | Impressum | Sitemap | KIT
Thermal pattern generation for infrared deflectometry

Konferenzbeitrag

Links:
Autoren:

Sebastian Höfer
Stefan Werling
Jürgen Beyerer

Quelle:

Proceedings SENSOR 2013 , 2013.

Konferenz:

SENSOR+TEST Conferences 2013, Nürnberg, Deutschland, 14.-16. Mai 2013