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Multiskalige Oberflächen-Inspektion mit Wavelets und Deflektometrie

Zeitschriftenartikel

Links:
Autoren:

Mathias Ziebarth
Tan-Toan Le
Thomas Greiner
Michael Heizmann

Quelle:

Photonik, AT-Fachverlag, Juni 2013.

Seiten:

46-48

Für die automatisierte Prüfung (teil)-spiegelnder Oberflächen kann die Deflektometrie als flächiges, optisches Messverfahren dienen, um die Geometrie großer Bereiche der Oberfläche zu erfassen. Für die Inspektion ist es nun nötig, Obeflächenfehler in den Messdaten zu detektieren und zu klassifizieren. Wir stellen Wavelet-basierte Methoden vor, die diese Problemstellung effizient lösen. Link