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Automated Visual Inspection and Machine Vision

Tagungsband

Links:
Herausgeber:

Jürgen Beyerer
Fernando Puente León

Quelle:

SPIE, Bellingham, Washington, 2015.

Konferenz:

Proceedings of SPIE, 0277-786X,V 9530, Munich, Germany, 24. Juni - 0. Juli 2015