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General Cramér-von Mises, a Helpful Ally for Transparent Object Inspection using Deflection Maps?

Konferenzbeitrag

Links:
Autoren:

Johannes Meyer
Thomas Längle
Jürgen Beyerer

Quelle:

20th Scandinavian Conference on Image Analysis (SCIA 2017), Springer, Cham, 2017.

Seiten:

526-537

Konferenz:

20th Scandinavian Conference on Image Analysis (SCIA 2017), Tromsø, Norway, 12.-14. Juni 2017

ISBN:

978-3-319-59125-4