Home | english  | Impressum | Sitemap | KIT
Quantifizierung von Drallerscheinungen an geschliffenen Wellendichtflächen mit Methoden der Bildverarbeitung

Konferenzbeitrag

Autoren:

D. Krahe
Jürgen Beyerer

Quelle:

ITG-Fachtagung, Sensoren und Meßtechnik, Bad Nauheim, 9.-11. März, 1998.

Seiten:

512-528