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Modellbildung für Grauwertbilder von riefentexturierten Oberflächen sowie deren quantitative Beurteilung in der Oberflächensichtkontrolle

Konferenzbeitrag

Autor:

Jürgen Beyerer

Quelle:

36. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, Ilmenau, 1991.

Seiten:

433-438