Home | english  | Impressum | Datenschutz | Sitemap | KIT
Oberflächencharakterisierung durch morphologische Filterung

Zeitschriftenartikel

Autoren:

Fernando Puente León
Jürgen Beyerer

Quelle:

tm Technisches Messen 72 (2005) 12, Oldenbourg Verlag, München, 2005.

Seiten:

663-670