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OCM 2015, 2nd International Conference on Optical Characterization of Materials

Tagungsband

Links:
Herausgeber:

Jürgen Beyerer
Fernando Puente León
Thomas Längle

Quelle:

Karlsruhe: KIT Scientific Publishing, 2015.

Konferenz:

2nd International Conference on Optical Characterization of Materials (OCM) , Karlsruhe, 18.-19. März 2015

ISBN:

978-3-7315-0318-7