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Veröffentlichungen

1998
TitelAutorenQuelle
Krahe, D.; Beyerer, J.ITG-Fachtagung, Sensoren und Meßtechnik, Bad Nauheim, 9.-11. März, S. 512-528, 1998.
Beyerer, J.; Puente León, F.Optical Engineering, Vol. 37, No. 10, S. 2733-2741, 1998.
Beyerer, J.; Krahe, D.Tagungsband zur WTA '98 Workshop on Texture Analysis, Hrsg.: H. Burkhard, Freiburg, 1998.
Beyerer, J.Signal Processing, Elsevier, Vol. 68, Nr. 1, S. 107-111, 1998.