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Veröffentlichungen

2000
TitelAutorenQuelle
Mesch, F.; Beyerer, J.Measurement Science - A Discussion, Hrsg.: Kariya, K. und Finkelstein, L., Omsha, Ltd., Tokyo, S. 149-167, 2000.
Beyerer, J.; Seiraffi, M.Hommes & Fonderie, Nr. 306, Paris, S. 23-31, 2000.
Beyerer, J.VDI Berichte 1572: Bildverarbeitung im industriellen Einsatz, VDI Verlag, Düsseldorf, S. 95-100, 2000.
Beyerer, J.; Seiraffi, M.Gießerei-Praxis, Fachverlag Schiele & Schön Berlin, Heft 6, S. 245-254, 2000.