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Veröffentlichungen

2017
TitelAutorenQuelle
Retzlaff, M.-G.; Hanika, J.; Beyerer, J.; Dachsbacher, C.Journal of Sensors and Sensor Systems 6 Nr. 1, S. 171-184, 2017.
Jarvis, J.; Haertelt, M.; Hugger, S.; Butschek, L.; Fuchs, F.; Ostendorf, R.; Wagner, J.; Beyerer, J.Advanced Optical Technologies 6 Nr. 2, S. 85--93, 2017.
Sommer, L. W.; Schuchert, T.; Beyerer, J.Proc. SPIE 10202, Automatic Target Recognition XXVII, 2017.
Hild, J.; Krüger, W.; Brüstle, S.; Trantelle, P.; Unmüßig, G.; Voit, M.; Heinze, N.; Peinsipp-Byma, E.; Beyerer, J.Proc. SPIE 10199, Geospatial Informatics, Fusion, and Motion Video Analytics VII, S. 1019903-1019903-9, 2017.
Maier, S.; Camp, F. v. d.; Hafermann, J.; Wagner, B.; Peinsipp-Byma, E.; Beyerer, J.Proc. SPIE 10190, Ground/Air Multisensor Interoperability, Integration, and Networking for Persistent ISR VIII, S. 101901D-101901D-10, 2017.
Maier, G.; Pfaff, F.; Becker, F.; Pieper, C.; Gruna, R.; Noack, B.; Kruggel-Emden, H.; Längle, T.; Hanebeck, U.; Wirtz, S.; Scherer, V.; Beyerer, J.KIT Scientific Publishing, K. (Hrsg.), Proceedings of the 3rd Conference on Optical Characterization of Materials (OCM 2017), 2017.
Luo, D.; Taphanel, M.; Längle, T.; Beyerer, J.Applied Optics 56 Nr. 8, S. 2155-3165, OSA, 2017.
Qu, C.; Herrmann, C.; Monari, E.; Schuchert, T.; Beyerer, J.Proceedings of the 17th IEEE Winter Conference on Applications of Computer Vision (WACV), S. 1105--1114, IEEE, 2017.
Frühberger, P.; Stephan, T.; Burke, J.; Beyerer, J.Oral, A. Y.; Bahsi Oral, Z. B. (Hrsg.), 3rd International Multidisciplinary Microscopy and Microanalysis Congress (InterM): Proceedings, Oludeniz, Turkey, 19-23 October 2015, S. 223--228, Springer International Publishing, 2017.