Mitarbeiter IES

Dr.-Ing. Mathias Ziebarth

  • Karlsruher Institut für Technologie – KIT
    Lehrstuhl für Interaktive Echtzeitsysteme (IES)
    Prof. Dr.- Ing. Jürgen Beyerer
    c/o Technologiefabrik
    Haid-und-Neu-Str. 7
    76131 Karlsruhe

Lebenslauf

Mathias Ziebarth studierte von 2004 bis 2011 Informatik am Karlsruher Institut für Technologie. In seiner Diplomarbeit am Lehrstuhl für Interaktive Echtzeitsysteme beschäftigte er sich mit der erkennungsbasierten Segmentierung von gedruckten Zeichen. Aktuell untersucht er Anwendungsmöglichkeiten von Wavelets in der deflektometrischen Oberflächeninspektion. Dabei arbeitet er eng mit der Abteilung Mess-, Regelungs- und Diagnosesysteme  des Fraunhofer IOSB  sowie der Hochschule Pforzheim zusammen.

Veröffentlichungen


2019
2018
Modeling the unified measurement uncertainty of deflectometric and plenoptic 3-D sensors.
Ziebarth, M.; Zeller, N.; Heizmann, M.; Quint, F.
2018. Journal of sensors and sensor systems, 7 (2), 517–533. doi:10.5194/jsss-7-517-2018
2017
A new FPGA based architecture to improve performance of deflectometry image processing algorithm.
Bhatti, F.; Greiner, T.; Heizmann, M.; Ziebarth, M.
2017. 40th International Conference on Telecommunications and Signal Processing (TSP 2017), Barcelona, S, July 5-7, 2017, 559–562, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). doi:10.1109/TSP.2017.8076049
An extended architecture to optimize execution time of 3D image processing deflectometry algorithm using FPGA.
Bhatti, F.; Greiner, T.; Heizmann, M.; Ziebarth, M.
2017. Proceedings of the International Conference on Signal and Image Processing Applications, ICSIPA 2017, Kuching, Malaysia, 12th - 14th September 2017, 257–262, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). doi:10.1109/ICSIPA.2017.8120617
2016
Systematic design of object shape matched wavelet filter banks for defect detection.
Le, T.-T.; Ziebarth, M.; Greiner, T.; Heizmann, M.
2016. 39th International Conference on Telecommunications and Signal Processing (TSP), Vienna, Austria, 27–29 June 2016, 470–473, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). doi:10.1109/TSP.2016.7760923
2015
Defect perception thresholds on specular surfaces. Technical Report IES-2014-11.
Ziebarth, M.
2015. Proceedings of the 2014 Joint Workshop of Fraunhofer IOSB and Institute for Anthropomatics, Vision and Fusion Laboratory. Ed.: J. Beyerer, 123–132, KIT Scientific Publishing
2014
Sichtbarkeit von Dellen und Beulen auf spiegelnden Oberflächen.
Ziebarth, M.; Heizmann, M.; Beyerer, J.
2014. Forum Bildverarbeitung 2014. Hrsg.: F. Puente León, 153–165, KIT Scientific Publishing
Segmentierung unterschiedlich stark ausgeprägter Welligkeiten auf lackierten Oberflächen.
Vogelbacher, M.; Ziebarth, M.; Olawsky, S.; Beyerer, J.
2014. Forum Bildverarbeitung 2014. Hrsg.: F. Puente León, 129–140, KIT Scientific Publishing
Segmentierung unterschiedlich stark ausgeprägter Welligkeiten auf lackierten Oberflächen.
Vogelbacher, M.; Ziebarth, M.; Olawsky, S.; Beyerer, J.
2014. tm - Technisches Messen, 81 (12), 644–651. doi:10.1515/teme-2014-1055
Empirical Comparison of Defect Classifiers on Specular Surfaces. Technical Report IES-2013-13.
Ziebarth, M.
2014. Proceedings of the 2013 Joint Workshop of Fraunhofer IOSB and Institute for Anthropomatics, Vision and Fusion Laboratory. Ed.: J. Beyerer, 155–169, KIT Scientific Publishing
2013
Methods for Multiscale Evaluation of Deflectometric Measurements. Technical Report IES-2012-11.
Ziebarth, M.
2013. Proceedings of the 2012 Joint Workshop of Fraunhofer IOSB and Institute for Anthropomatics, Vision and Fusion Laboratory. Ed.: J. Beyerer, 127–143, KIT Scientific Publishing
2012
Beurteilung textiler Flächenhalbzeuge mittels variabler Beleuchtung.
Vogelbacher, M.; Werling, S.; Ziebarth, M.
2012. Forum Bildverarbeitung 2012. Hrsg.: F. Puente León, 193–204, KIT Scientific Publishing
Inspektion spiegelnder Oberflächen mit Wavelet-basierten Verfahren.
Ziebarth, M.; Le, T.-T.; Greiner, T.; Heizmann, M.
2012. Forum Bildverarbeitung 2012. Hrsg. F. Puente León, 167–180, KIT Scientific Publishing