Quantifizierung von Drallerscheinungen an geschliffenen Wellendichtflächen mit Methoden der Bildverarbeitung

Conference paper

Authors:

D. Krahe
Jürgen Beyerer

Source:

ITG-Fachtagung, Sensoren und Meßtechnik, Bad Nauheim, 9.-11. März, 1998.

Pages:

512-528