Konferenzbeitrag | Links: | BibTeX-Datensatz | |
|---|---|---|---|
| Autoren: | Miro Taphanel | ||
| Quelle: | SPIE 9525, Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IX, 2015. | ||
| Seiten: | 95250Y-95250Y | ||
| Konferenz: | Optical Metrology, München, Deutschland, 21.-25. Juni 2015 | ||
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft