Konferenzbeitrag | Links: | BibTeX-Datensatz | |
---|---|---|---|
Autoren: | Miro Taphanel | ||
Quelle: | SPIE 9525, Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IX, 2015. | ||
Seiten: | 95250Y-95250Y | ||
Konferenz: | Optical Metrology, München, Deutschland, 21.-25. Juni 2015 | ||
Konferenzbeitrag | Links: | BibTeX-Datensatz | |
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Autoren: | Miro Taphanel | ||
Quelle: | SPIE 9525, Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IX, 2015. | ||
Seiten: | 95250Y-95250Y | ||
Konferenz: | Optical Metrology, München, Deutschland, 21.-25. Juni 2015 | ||