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Automatic Visual Inspection Based on Trajectory Data

Konferenzbeitrag

Links:
Autoren:

Georg Maier
N Mürdter
Robin Gruna
Thomas Längle
Jürgen Beyerer

Quelle:

Jürgen Beyerer, Fernando Puente León, Thomas Längle (Hrsg.), OCM 2019 - Optical Characterization of Materials : Conference Proceedings, Karlsruhe: KIT Scientific Publishing, 2019.

Seiten:

87 - 97

Konferenz:

International Conference on Optical Characterization of Materials (OCM), Karlsruhe, 13.-14. März 2019