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Prof. Dr.-Ing. Jürgen Beyerer
Leitung
Gebäude: 50.21
Raum: 014
Tel.: +49 721 608-45911
Fax: +49 721 608-45926
Sprechstunden: nach Vereinbarung; bitte Sekretariat des Lehrstuhls kontaktieren
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Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Lehrstuhl für Interaktive Echtzeitsysteme (IES)
Adenauerring 4
76131 Karlsruhe

Prof. Dr.-Ing. Jürgen Beyerer ist Inhaber des 2004 eingerichteten Lehrstuhls für Interaktive Echtzeitsysteme an der Fakultät für Informatik. Gleichzeitig ist er Leiter des Fraunhofer-Instituts für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung (IOSB) in Karlsruhe (bis 2009: Fraunhofer IITB).

Prof. Beyerer studierte von 1984 bis 1989 Elektrotechnik an der Universität Karlsruhe und promovierte 1994 am Institut für Mess- und Regelungstechnik (MRT) bei Prof. Franz Mesch mit einer Arbeit zur Texturanalyse, die 1995 mit dem Messtechnikpreis des AHMT (Arbeitskreis der Hochschullehrer für Messtechnik e.V.) ausgezeichnet wurde. Anschließend baute er eine Forschungsgruppe zum Thema Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung am gleichen Institut auf. 1999 habilitierte er sich für das Fach Messtechnik mit einer Arbeit zum Thema der Nutzung von Vorwissen in der Messtechnik. Von 1999 bis 2004 leitete er das Mannheimer Mittelstands-Unternehmen Hottinger Systems GmbH (heute: inspectomation GmbH) und war stellvertretender Geschäftsführer des Schwesterunternehmens Hottinger Maschinenbau GmbH.

Lehrstuhl und Fraunhofer IOSB arbeiten inhaltlich eng zusammen. Damit lassen sich Synergieeffekte, die in der eher grundlagenorientierten Herangehensweise am Lehrstuhl und der anwendungsorientierten Ausrichtung des IOSB liegen, optimal erschließen. Daneben fördert eine enge Kooperation die Gewinnung erstklassiger Nachwuchswissenschaftler für das Fraunhofer IOSB.


Vorlesungen
Wintersemester
Sommersemester
Veröffentlichungen
TitelAutorenQuelle
Meyer, J.; Gruna, R.; Längle, T.; Beyerer, J.Electronic Imaging 2016 Nr. 19, S. 1-9, 2016.
Luo, D.; Bauer, S.; Taphanel, M.; Längle, T.; León, F. P.; Beyerer, J.Proceedings of SPIE Next-Generation Spec, S. 98550P-98550P-9, SPIE, 2016.
Philipp, P.; Fischer, Y.; Hempel, D.; Beyerer, J.Emerging Trends in Applications and Infrastructures for Computational Biology, Bioinformatics, and Systems Biology, S. 371-390, Elsevier, 2016.
Qu, C.; Luo, D.; Monari, E.; Schuchert, T.; Beyerer, J.Proceedings of the 23rd IEEE International Conference on Image Processing (ICIP), IEEE, 2016.
Schreiter, L.; Philipp, P.; Giehl, J.; Fischer, Y.; Raczkowsky, J.; Schwarz, M.; Beyerer, J.; Wörn, H.Proceedings of Computer Assisted Radiology and Surgery (CARS), 2016.
Richter, M.; Vieth, K.-U.; Längle, T.; Beyerer, J.Proceedings of the 7th Sensor-Based Sorting & Control 2016, S. 169-177, 2016.
Beyerer, J.; Puente León, F.; Frese, C.Springer, 2016.
Beyerer, J.; Jasperneite, J.; Sauer, O.at Automatisierungstechnik 10 Nr. 63, S. 751-752, De Gruyter, 2015.
Philipp, P.; Fischer, Y.; Hempel, D.; Beyerer, J.CSCI 2015, International Conference on Computational Science and Computational Intelligence: ISHI 2015, International Symposium on Health Informatics and Medical Systems, december 7-9, Las Vegas, Neva, S. 3-9, 2015.
Philipp, P.; Fischer, Y.; Hempel, D.; Beyerer, J.WorldComp 2015, World Congress in Computer Science, Computer Engineering, and Applied Computing : HIMS 2015, International Conference on Health Informatics and Medical Systems, july 27-30, Las Vegas, , S. 3-9, 2015.
Herrmann, C.; Qu, C.; Beyerer, J.Proceedings of the 4th IEEE International Conference on Signal and Image Processing Applications, 2015, IEEE, 2015.
Herrmann, C.; Qu, C.; Willersinn, D.; Beyerer, J.Proceedings of the 12th IEEE International Conference on Advanced Video and Signal Based Surveillance, IEEE, 2015.
Qu, C.; Monari, E.; Schuchert, T.; Beyerer, J.Proceedings of the 26th British Machine Vision Conference (BMVC), S. 87.1-87.12, BMVA Press, 2015.
Herrmann, C.; Metzler, J.; Willersinn, D.; Beyerer, J.Proceedings of the 10th Future Security, 2015, 2015.
Pfrommer, J.; Stogl, D.; Aleksandrov, K.; Navarro, S. E.; Hein, B.; Beyerer, J.at Automatisierungstechnik 10 Nr. 63, De Gruyter, 2015.
Frühberger, P.; Stephan, T.; Beyerer, J. 2nd International Multidisciplinary Microscopy and Microanalysis Congress, Springer Proceedings in Physics, Bd. 164, S. 57-64, Springer International Publishing, 2015.
Beyerer, J.; Geisler, J.Beyerer, J.; Meissner, A.; Geisler, J. (Hrsg.), Proceedings of the 10th Future Security, 2015, S. 317-324, Stuttgart: Fraunhofer Verlag, 2015.
Beyerer, J.; Meissner, A.; Geisler, J. (Hrsg.)Fraunhofer Verlag, 2015.
Beyerer, J.; Pak, A. (Hrsg.)Karlsruher Schriften zur Anthropomatik, Bd. 20, KIT Scientific Publishing, 2015.
Qu, C.; Gao, H.; Monari, E.; Beyerer, J.; Thiran, J.-P.Proceedings of the 28th IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition Workshops (CVPRW), S. 1-9, IEEE, 2015.
Woock, P.; Beyerer, J.Proceedings of the 3rd Underwater Acoustics Conference and Exhibition 2015, 2015.
Qu, C.; Herrmann, C.; Monari, E.; Schuchert, T.; Beyerer, J.Proceedings of the 12th Conference on Computer and Robot Vision (CRV), S. 139-146, IEEE, 2015.
Taphanel, M.; Zink, R.; Längle, T.; Beyerer, J.SPIE 9525, Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IX, S. 95250Y-95250Y, 2015.
Herrmann, C.; Beyerer, J.Proceedings of the 12th Conference on Computer Robot Vision (CRV), S. 192-199, 2015.
Janya-Anurak, C.; Bernard, T.; Beyerer, J.Proceedings of the 1st International Conference on Uncertainty Quantification in Computational Sciences and Engineering, S. 702-713, IEEE , 2015.
Richter, M.; Längle, T.; Beyerer, J.Proceedings of the 14th IAPR International Conference on Machine Vision Applications, S. 210-213, 2015.
Woock, P.; Stephan, T.; Beyerer, J.at - Automatisierungstechnik 63 Nr. 5, S. 334-343, Oldenbourg Wissenschaftsverlag, 2015.
Kuwertz, A.; Goldbeck, C.; Hug, R.; Beyerer, J.Proceedings of the UKSIM-AMSS 17th International Conference on Modelling and Simulation (UKSim2015) 2015, S. 165-170, 2015.
Richter, M.; Beyerer, J.Beyerer, J.; León, F. P.; Längle, T. (Hrsg.), OCM 2015 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings , S. 103-112, KIT Scientific Publishing, 2015.
Beyerer, J.; Puente León, F.; Längle, T. (Hrsg.)Karlsruhe: KIT Scientific Publishing, 2015.
Qu, C.; Monari, E.; Schuchert, T.; Beyerer, J.Proceedings of SPIE 9405, SPIE/IS&T Electronic Imaging 2015, Image Processing: Machine Vision Applications VIII, S. 94050P-94050P-9, 2015.
Herrmann, C.; Beyerer, J.Proc. SPIE 9405, Image Processing: Machine Vision Applications VIII, 940507, 2015.
Richter, M.; Längle, T.; Beyerer, J.tm -Technisches Messen 82 Nr. 3, S. 135-144, 2015.
Kühnert, C.; Beyerer, J.Machines 2014 2 Nr. 4, S. 255-274, 2014.
Herrmann, C.; Beyerer, J.Lecture Notes in Computer Science 8888, Advances in Visual Computing, 10th International Symposium, ISVC 2014, Proceedings, Part II, S. 304-314, 2014.
Vogelbacher, M.; Schulte, H.; Heber, E.; Beyerer, J.Proceedings of the 12th International Symposium on Sophisticated Car Occupant Safety Systems, 2014.
Vogelbacher, M.; Ziebarth, M.; Olawsky, S.; Beyerer, J.Puente León, F.; Heizmann, M. (Hrsg.), Forum Bildverarbeitung, S. 129-140, KIT Scientific Publishing, 2014.
Richter, M.; Beyerer, J.Puente León, F.; Heizmann, M. (Hrsg.), Forum Bildverarbeitung, S. 107-118, KIT Scientific Publishing, 2014.
Ruf, M.; Ziehn, J. R.; Willersinn, D.; Rosenhahn, B.; Beyerer, J.; Gotzig, H.Proceedings of the Conference on Vehicle and Infrastructure Safety Improvement in Adverse Conditions and Night Driving (VISION 2014), 2014.
Taphanel, M.; Beyerer, J.XXVIII. Messtechnisches Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik e.V., Shaker, 2014.
Woock, P.; Beyerer, J.Proceedings of IEEE/MTS Oceans 2014, 2014.
Stephan, T.; Beyerer, J.2014 ICPR Workshop on Computer Vision for Analysis of Underwater Imagery (CVAUI), S. 73-79, 2014.
Vogelbacher, M.; Ziebarth, M.; Olawsky, S.; Beyerer, J.tm - Technisches Messen 81 Nr. 12, S. 644-651, Oldenbourg Wissenschaftsverlag, 2014.
Beyerer, J.; Pak, A. (Hrsg.)Karlsruher Schriften zur Anthropomatik, Bd. 17, KIT Scientific Publishing, 2014.
Ziebarth, M.; Heizmann, M.; Beyerer, J.Puente León, F.; Heizmann, M. (Hrsg.), Forum Bildverarbeitung, S. 153-165, KIT Scientific Publishing, 2014.
Qu, C.; Monari, E.; Schuchert, T.; Beyerer, J.IEEE, (Hrsg.), Proceedings of the 11th IEEE International Conference on Advanced Video and Signal Based Surveillance (AVSS), S. 113--118, 2014.
Frühberger, P.; Klaus, E.; Beyerer, J.Polychroniadis, E. K.; Oral, A. Y.; Ozer, M. (Hrsg.), International Multidisciplinary Microscopy Congress, Springer Proceedings in Physics, Bd. 154, S. 195-200, Springer International Publishing, 2014.
Stephan, T.; Richter, M.; Beyerer, J.9th Future Security. Security Research Conference. Proceedings., Fraunhofer Verlag, 2014.
Teutsch, M.; Krüger, W.; Beyerer, J.Proceedings of the 11th IEEE International Conference on Advanced Video and Signal-Based Surveillance (AVSS), 2014.
Ruf, M.; Ziehn, J. R.; Rosenhahn, B.; Beyerer, J.; Willersinn, D.; Grotzig, H.Proceedings of the 2014 International Conference on Mechatronics and Control (ICMC), S. 2446-2451, IEEE, 2014.
Teutsch, M.; Müller, T.; Huber, M.; Beyerer, J.Proceedings of the 27th IEEE International Conference of Computer Vision and Pattern Recognition Workshops (CVPRW), 2014.
Pfrommer, J.; Schleipen, M.; Usländer, T.; Epple, U.; Heidel, R.; Urbas, L.; Sauer, O.; Beyerer, J.Jumar, U.; Diedrich, C. (Hrsg.), Tagungsband zu Entwurf komplexer Automatisierungssysteme (EKA) 2014, 2014.
Beyerer, J.; Heizmann, M.; Frühberger, P.Patentschrift DE 10 2013 205 001 B3, 2014.
Ziebarth, M.; Vogelbacher, M.; Olawsky, S.; Beyerer, J.Jiang, X. .; Hornegger, J.; Koch, R. . (Hrsg.), Pattern Recognition, S. 690-700, Springer International Publishing, 2014.
Maurus, M.; Hammer, J. H.; Beyerer, J.Proceedings of the Symposium on Eye Tracking Research and Applications, S. 295--298, ACM, 2014.
Ruf, M.; Ziehn, J. R.; Rosenhahn, B.; Beyerer, J.; Willersinn, D.; Grotzig, H.Färber, B.; Dietmayer, K.; Bengler, K.; Maurer, M.; Stiller, C.; Winner, H. (Hrsg.), 9. Workshop Fahrerassistenzsysteme (FAS 2014), S. 55-66, Uni-DAS e.V, 2014.
Richter, M.; Beyerer, J.Proceedings of the IEEE Winter Conference on Applications of Computer Vision (WACV), 2014.
Kuwertz, A.; Beyerer, J.Proceedings of the IEEE International Inter-Disciplinary Conference on Cognitive Methods in Situation Awareness and Decision Support (CogSIMA) 2014, 2014.
Herrmann, C.; Beyerer, J.Proceedings of the 11th IEEE International Conference on Advanced Video and Signal Based Surveillance, 2014.
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Greiner, S.; Birnstill, P.; Krempel, E.; Beckert, B.; Beyerer, J.Lauster, M. (. (Hrsg.), 8th Future Security. Security Research Conference. Proceedings., S. 296-302, Fraunhofer Verlag, 2013.
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Taphanel, M.; Beyerer, J.; Rademacher, D.OIC-Optical Interference Coatings, Optical Society of America, 2013.
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Taphanel, M.; Hovestreydt, B.; Beyerer, J.Proc. SPIE 8788, Optical Measurement Systems for Industrial Inspection VIII, S. 87880S–87880S-10, 2013.
Fischer, Y.; Beyerer, J.Proceedings of the IEEE Conference on Cognitive Methods in Situation Awareness and Decision Support, S. 105-108, 2013.
Kuwertz, A.; Beyerer, J.Proceedings of the IEEE Conference on Cognitive Methods in Situation Awareness and Decision Support (CogSIMA 2013), 2013, 2013.
Hild, J.; Müller, E.; Klaus, E.; Peinsipp-Byma, E.; Beyerer, J.ACHI 2013, The Sixth International Conference on Advances in Computer-Human Interactions, S. 454-459, 2013.
Putze, F.; Hild, J.; Kärgel, R.; Herff, C.; Redmann, A.; Beyerer, J.; Schultz, T.Proceedings of the 2013 international conference on Intelligent user interfaces, S. 129-136, 2013.
Beyerer, J.; Puente León, F.; Längle, T.KIT Scientific Publishing, 2013.
Sauer, O.; Beyerer, J. (Hrsg.)Fraunhofer Verlag, 2013.
Beyerer, J.; Heizmann, M.; Kuntze, H.-B.Automatisierungstechnik 60 Nr. 5, S. 243-245, Oldenbourg Wissenschaftsverlag, 2012.
Beyerer, J.; Puente León, F. (Hrsg.)Oldenbourg Wissenschaftsverlag, München, 2012.
Teutsch, M.; Beyerer, J.Park, J.-I.; Kim, J. (Hrsg.): ACCV 2012 Workshops, Part I, LNCS 7728, S. 1-14, Springer, Heidelberg, 2012.
Beyerer, J.; Puente León, F.; Frese, C.Springer, 2012.
Beyerer, J.; Puente León, F.; Frese, C.Springer, 2012.
Belkin, A.; Beyerer, J.Su, C.-Y.; Rakheja, S.; Liu, H. (Hrsg.), The 5th International Conference on Intelligent Robotics and Applications, Lecture Notes in Artificial Intelligence, Bd. 7508 Nr. 7508, S. 171-180, Springer, 2012.
Watson, K.; Frese, C.; Batz, T.; Beyerer, J.Meyers, R. (Hrsg.), Encyclopedia of Sustainability Science and Technology, S. 2463-2489, Springer, 2012.
Taphanel, M.; Beyerer, J.Tagungsband 18.Workshop Farbbildverarbeitung, 2012.
Höfer, S.; Werling, S.; Beyerer, J.Schmitt, P. D.-I. R. (Hrsg.), Tagungsband des XXVI. Messtechnisches Symposiums, Shaker, 2012.
Roschani, M.; Beyerer, J.Schmitt, P. D.-I. R. (Hrsg.), Tagungsband des XXVI. Messtechnisches Symposiums, Shaker, 2012.
Beyerer, J.; Pak, A. (Hrsg.)Karlsruher Schriften zur Anthropomatik, Bd. 11, KIT Scientific Publishing, 2012.
Huber, M.; Dencker, T.; Roschani, M.; Beyerer, J.Proceedings of the 15th International Conference on Information Fusion, S. 1718 -1725, 2012.
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Fischer, Y.; Beyerer, J.Proceedings of the 15th International Conference on Information Fusion, 2012.
Belkin, A.; Kuwertz, A.; Fischer, Y.; Beyerer, J.Kalloniatis, C. (Hrsg.), Innovative Information Systems Modelling Techniques, InTech – Open Access Publisher, 2012.
Gruna, R.; Beyerer, J.IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC) Proceedings, 2012.
Taphanel, M.; Gruna, R.; Beyerer, J.tm - Technisches Messen 79 Nr. 4, S. 202-209, Oldenbourg Wissenschaftsverlag, 2012.
Fischer, Y.; Baum, M.; Flohr, F.; Hanebeck, U. D.; Beyerer, J.Proceedings of SPIE Volume 8392, 2012.
Fischer, Y.; Beyerer, J.Proceedings of the IEEE Conference on Cognitive Methods in Situation Awareness and Decision Support, S. 324-331, 2012.
Belkin, A.; Beyerer, J.Proceedings of the IEEE Conference on Cognitive Methods in Situation Awareness and Decision Support, 2012.
Fischer, Y.; Beyerer, J.Proceedings of the Seventh International Conference on Systems, S. 43-48, 2012.
Gruna, R.; Beyerer, J.Kurzfassungen zum 46. Regelungstechnischen Kolloquium, 2012.
Gruna, R.; Beyerer, J.Bingham, P. R.; Lam, E. Y. (Hrsg.), Image Processing: Machine Vision Applications V, Proc. SPIE, Bd. 8300, 2012.
Grafmüller, M.; Beyerer, J.Rao, K. R. (Hrsg.), Proceedings of the 13th IASTED International Conference on Signal and Image Processing, 2011.
Sander, J.; Beyerer, J.Heiß, H.-U.; Pepper, P.; Schlinghoff, H.; Schneider, J. (Hrsg.), INFORMATIK 2011 - Informatik schafft Communities, S. 478, Gesellschaft für Informatik, 2011.
Frese, C.; Beyerer, J.ATZ Elektronik Worldwide Nr. 5/2011, S. 48-52, Springer, 2011.
Frese, C.; Beyerer, J.Automobiltechnische Zeitschrift ATZ Elektronik 6 Nr. 5, S. 70-75, Springer, 2011.
Puente León, F.; Beyerer, J.Information Fusion 12 Nr. 4, S. 242-243, Elsevier, 2011.
Höfer, S.; Roschani, M.; Werling, S.; Beyerer, J.Puente León, F.; Beyerer, J. (Hrsg.), Tagungsband des XXV. Messtechnisches Symposiums, S. 127-138, Shaker, 2011.
Sauerland, M.; Gruna, R.; Beyerer, J.Puente León, F.; Beyerer, J. (Hrsg.), Tagungsband des XXV. Messtechnisches Symposiums, S. 91-102, Shaker, 2011.
Puente León, F.; Beyerer, J. (Hrsg.)Shaker, 2011.
Vagts, H.; Beyerer, J.Ender, J.; Fiege, J. (Hrsg.), Future Security 2011 Conference Proceedings, Fraunhofer Verlag, 2011.
Werling, S.; Beyerer, J.tm - Technisches Messen 78 Nr. 9, S. 398-404, Oldenbourg Wissenschaftsverlag, 2011.
Gheţa, I.; Höfer, S.; Heizmann, M.; Beyerer, J.tm - Technisches Messen 78 Nr. 9, S. 391-397, Oldenbourg Wissenschaftsverlag, 2011.
Teutsch, M.; Krüger, W.; Beyerer, J.Proceedings of the 14th International Conference on Information Fusion, 2011.
Heizmann, M.; Puente León, F.; Beyerer, J.Fertigungsmesstechnik 2020: Technologie-Roadmap für die Messtechnik in der industriellen Produktion, S. 85-89, VDI-Verlag, 2011.
Beyerer, J.; Sauer, O.at - Automatisierungstechnik 59 Nr. 7, S. 395-396, Oldenbourg Wissenschaftsverlag, 2011.
Balzer, J.; Höfer, S.; Beyerer, J.Proceedings of the IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR), S. 2537-2544, 2011.
Frese, C.; Beyerer, J.Proceedings of IEEE Intelligent Vehicles Symposium, S. 1154-1160, 2011.
Gheţa, I.; Heizmann, M.; Beyerer, J.Zheng, Y. (Hrsg.), Image Fusion and Its Applications, S. 73-92, InTech, 2011.
Gruna, R.; Beyerer, J.Proc. IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, S. 192-197, 2011.
Fischer, Y.; Bauer, A.; Beyerer, J.Proceedings of the Conference on Cognitive Methods in Situation Awareness and Decision Support, S. 234-239, 2011.
Beyerer, J.; Huber, M. (Hrsg.)Karlsruher Schriften zur Anthropomatik, Bd. 7, KIT Scientific Publishing, 2011.
Bader, T.; Beyerer, J.Workshop on Eye Gaze in Intelligent Human Machine Interaction, 2011.
Vagts, H.; Bier, C.; Beyerer, J.Proceedings of 4th IFIP Conference on New Technologies, Mobility and Security, 2011.
Balzer, J.; Werling, S.; Beyerer, J.tm - Technisches Messen 78 Nr. 1, S. 43-50, Oldenbourg Wissenschaftsverlag, 2011.
Höfer, S.; Werling, S.; Beyerer, J.Puente León, F.; Heizmann, M. (Hrsg.), Forum Bildverarbeitung, S. 25-34, KIT Scientific Publishing, 2010.
Grafmüller, M.; Beyerer, J.Puente León, F.; Heizmann, M. (Hrsg.), Forum Bildverarbeitung, S. 253-264, KIT Scientific Publishing, 2010.
Gheta, I.; Höfer, S.; Heizmann, M.; Beyerer, J.Puente León, F.; Heizmann, M. (Hrsg.), Forum Bildverarbeitung, S. 289-300, KIT Scientific Publishing, 2010.
Gruna, R.; Beyerer, J.Puente León, F.; Heizmann, M. (Hrsg.), Forum Bildverarbeitung, S. 313-324, KIT Scientific Publishing, 2010.
Werling, S.; Beyerer, J.Puente León, F.; Heizmann, M. (Hrsg.), Forum Bildverarbeitung, S. 349-364, KIT Scientific Publishing, 2010.
Notheis, S.; Milighetti, G.; Hein, B.; Wörn, H.; Beyerer, J.Proceedings of the 2010 IEEE/RSJ International Conference on Intelligent Robots and Systems, S. 5258-5263, 2010.
Vagts, H.; Krempel, E.; Beyerer, J.Proceedings of the International Conference on Distributed Multimedia Systems, S. 64-69, 2010.
Heizmann, M.; Gheta, I.; Puente León, F.; Beyerer, J.tm - Technisches Messen 77 Nr. 10, S. 558-567, Oldenbourg Wissenschaftsverlag, 2010.
Balzer, J.; Höfer, S.; Werling, S.; Beyerer, J.Goesele, M.; Roth, S.; Kuijper, A.; Schiele, B.; Schindler, K. (Hrsg.), Pattern Recognition - DAGM Symposium, Lecture Notes in Computer Science, Bd. 6376, S. 41-50, Springer, 2010.
Dillmann, R.; Beyerer, J.; Hanebeck, U. D.; Schultz, T. (Hrsg.)Lecture Notes in Artificial Intelligence, Bd. 6359, Springer, 2010.
Sander, J.; Krieger, J.; Beyerer, J.Dillmann, R.; Beyerer, J.; Hanebeck, U. D.; Schultz, T. (Hrsg.), KI 2010: Advances in Artificial Intelligence, Lecture Notes in Artificial Intelligence, Bd. 6359, S. 299-308, Springer, 2010.
Frese, C.; Beyerer, J.Dillmann, R.; Beyerer, J.; Hanebeck, U. D.; Schultz, T. (Hrsg.), KI 2010: Advances in Artificial Intelligence, Lecture Notes in Artificial Intelligence, Bd. 6359, S. 91-98, Springer, 2010.
Gheta, I.; Heizmann, M.; Belkin, A.; Beyerer, J.Dillmann, R.; Beyerer, J.; Hanebeck, U. D.; Schultz, T. (Hrsg.), KI 2010: Advances in Artificial Intelligence, Lecture Notes in Artificial Intelligence, Bd. 6359, S. 176-183, Springer, 2010.
Vagts, H.; Beyerer, J.Future Security: 5th Security Research Conference, Fraunhofer Verlag, 2010.
Geisler, J.; Beyerer, J.Future Security: 5th Security Research Conference, Fraunhofer Verlag, 2010.
Gheta, I.; Baum, M.; Belkin, A.; Beyerer, J.; Hanebeck, U. D.Proceedings of IEEE Conference on Virtual Environments, Human-Computer Interfaces and Measurement Systems, S. 12-17, 2010.
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Zu vergebende studentische Arbeiten
TitelTypBetreuer
MitarbeiterstelleProf. Dr.-Ing. habil. Jürgen Beyerer

Betreute studentische Arbeiten (Auswahl)
TitelTyp, AbgabedatumBetreuer
Diplomarbeit
September 2007
Prof. Dr.-Ing. Jürgen Beyerer
Prof. G. Gordon (Carnegie Mellon University)
Diplomarbeit
Februar 2007
Prof. Dr.-Ing. Jürgen Beyerer
Dipl.-Math. Günter Saur
Diplomarbeit
April 2006
Prof. Dr.-Ing. Jürgen Beyerer
Priv.-Doz. Dr. D. Kadelka (Institut für Stochastik)
Diplomarbeit
September 2005
Prof. Dr.-Ing. Jürgen Beyerer
Dr. Christoph Thomalla
Diplomarbeit
August 2005
Prof. Dr.-Ing. Jürgen Beyerer
Dipl.-Inform. Thomas Kresken
Diplomarbeit
August 2005
Prof. Dr.-Ing. Jürgen Beyerer
Dr. Michael Baumann
Diplomarbeit
Mai 2005
Prof. Dr.-Ing. Jürgen Beyerer
Prof. Dr. Josef Pauli (Universität Duisburg-Essen)
Diplomarbeit
April 2005
Prof. Dr.-Ing. Jürgen Beyerer
Prof. Dr. rer. nat Hartwig Steusloff
Studienarbeit
November 2004
Prof. Dr.-Ing. Jürgen Beyerer
Dipl.-Geophys. Ralf Eck
Diplomarbeit
September 2004
Prof. Dr.-Ing. Jürgen Beyerer