Home | deutsch  | Legals | Sitemap | KIT
Dr.-Ing. Miro Taphanel
Building: 50.21
Room: 017
Phone: +49 721 6091-389
Fax: +49 721 608-45926
miro taphanelRvk4∂kit edu
Lehrstuhl für Interaktive Echtzeitsysteme
Adenauerring 4
76131 Karlsruhe
Germany

Miro Taphanel (geb. Sauerland) studierte im Zeitraum 2005-2010 Maschinenbau an der Universität Karlsruhe (TH). Die Diplomarbeit "Unüberwachtes Lernen von Objekten auf akkumulierten 3D-Laserdaten" wurde am Institut für Angewandte Informatik / Automatisierungstechnik (AIA) angefertigt. Herr Taphanel beschäftigt sich derzeit mit derzeit mit der optischen Signalvorverarbeitung in der Messtechnik. Im Fokus stehen dabei Anwendungen aus der Spektroskopie und der 3D-Messtechnik. Die Forschung findet in enger Kooperation mit der Abteilung Sichtprüfsysteme" (SPR) des Fraunhofer IOSB statt.

Publications
TitleAuthorsSource
Luo, D.; Taphanel, M.; Längle, T.; Beyerer, J.Applied Optics 56 no. 8, pp. 2155-3165, OSA, 2017.
Luo, D.; Bauer, S.; Taphanel, M.; Längle, T.; León, F. P.; Beyerer, J.Proceedings of SPIE Next-Generation Spec, pp. 98550P-98550P-9, SPIE, 2016.
Taphanel, M.; Beyerer, J.tm Technisches Messen 82 no. 2, pp. 94-101, Oldenbourg Wissenschaftsverlag, 2015.
Taphanel, M.; Zink, R.; Längle, T.; Beyerer, J.SPIE 9525, Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IX, pp. 95250Y-95250Y, 2015.
Taphanel, M.Leitfaden zur optischen 3D-Messtechnik no. 14, pp. 39-41, Fraunhofer Verlag, Stuttgart, 2014.
Taphanel, M.; Beyerer, J.XXVIII. Messtechnisches Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik e.V., Shaker, 2014.
Taphanel, M.; Beyerer, J.; Rademacher, D.OIC-Optical Interference Coatings, Optical Society of America, 2013.
Taphanel, M.; Hovestreydt, B.; Beyerer, J.Proc. SPIE 8788, Optical Measurement Systems for Industrial Inspection VIII, pp. 87880S–87880S-10, 2013.
Taphanel, M.; Beyerer, J.Tagungsband 18.Workshop Farbbildverarbeitung, 2012.
Taphanel, M.; Beyerer, J.2012 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference Proceedings (I2MTC 2012) , pp. 1072 -1077, 2012.
Taphanel, M.; Gruna, R.; Beyerer, J.tm - Technisches Messen 79 no. 4, pp. 202-209, Oldenbourg Wissenschaftsverlag, 2012.
Moosmann, F.; Sauerland, M.IEEE International Conference on Computer Vision Workshops Proceedings, pp. 1038-1044, 2011.
Sauerland, M.; Gruna, R.; Beyerer, J.Puente León, F.; Beyerer, J. (eds.), Tagungsband des XXV. Messtechnisches Symposiums, pp. 91-102, Shaker, 2011.